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日聯(lián)X-Ray創(chuàng)新領航,智檢未來 | 深圳一步步微電子封裝與組裝技術研討會
發(fā)布時間:2023-03-13 13:31:46

3月9日,一步步新技術研討會在深圳 ? 國際會展中心希爾頓酒店圓滿舉辦。

日聯(lián)科技與各界專家學者、技術精英齊聚一堂,共同交流市場趨勢、智能產品等,為產業(yè)發(fā)展提供助力。

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在此次研討會上,日聯(lián)科技的專家從不同角度分享了X射線檢測智能化、自動化等方面的產品解決方案,并針對行業(yè)聚焦的3D CT成像、AI智能檢測等技術,為現場來賓提供企業(yè)提質增效的思路。

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日聯(lián)科技代表出席了同期舉行的“第十六屆VA遠見獎”頒獎盛宴,憑借高端X-Ray檢測技術產品捧回了本屆“VA遠見-創(chuàng)新獎”,與現場來賓共同見證電子制造智能檢測產業(yè)高速發(fā)展。

 

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